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今岡 仁(いまおか ひとし)

NECフェロー 1997年NEC入社。脳視覚情報処理の研究開発の後、2002年に顔認証技術の研究開発を開始。世界70カ国以上での生体認証製品の事業化に貢献するとともに、NIST(米国国立標準技術研究所)の顔認証ベンチマークテストで世界No.1評価を6回獲得。 令和4年度科学技術分野の文部科学大臣表彰「科学技術賞(開発部門)」受賞。 令和5年春の褒章「紫綬褒章」受章。

学歴

1994年 大阪大学工学部応用物理学科 卒業 1999年 大阪大学大学院 博士課程修了

職歴

1997年 NEC 2019年 同社フェロー